X射线无损测厚仪是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪,使用大铍窗超薄窗口高分辨率的SDD探测器,其探测器分辨率为139eV,处于先J水平;产品采用上照式设计,多重防辐射保护装置以及X射线发生器,使辐射剂量符合国际规定;样品观察系统采用CCDS像头、数字多道分析器、激光定位以及自主研发的测厚分析软件,各项指标均符合相关技术要求,技术达先J水平。
该款仪器专为电子半导体、五金电镀、印刷线路板、首饰手表、检测机构等行业的仪器。XYZ三个可调节方向、全面的样品观察系统和激光定位使得检测更方便。大的测试内部空间,较好的散热效果和抗电磁干扰能力,模块化的结构设计使安装、调试、维护更方便,可适应恶劣工作环境。
性能特点:
1、满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求;
2、φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求;
3、高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm;
4、采用高度定位激光,可自动定位测试高度;
5、定位激光确定定位光斑,确B测试点与光斑对齐;
6、鼠标可控制移动平台,鼠标点J的位置就是被测点;
7、高分辨率探头使分析结果更加;
8、较好的射线屏蔽作用;
9、测试口高度敏感性传感器保护。
更多产品信息来源:http://www.sh-jcx.com/fan2009-Products-19388828/
http://www.chem17.com/st253946/product_19388828.html